相位法光速測量儀 光速測量儀 型號：H11913
相位法光速測量儀對激光光束直接進行100MHz的高頻調制，移動反光鏡通過測量近程光與遠程光的相位差求得調制光的波長，依據C=f•λ計算出光的傳播速度，即“相位法"。儀器全長0.8m，全部采用半導體器件，性能穩定可靠。
測量方法：相位法
    儀器全長：0.8m
可變光程：0 – 1m
移相范圍： -
分辨率：  0.2mm
    調制頻率：100MHz
測相頻率：455KHz
頻率穩定度：
測量精度：小于等于3%
    波形幅度起伏小于等于5%
實驗內容擴展性：  
1）  含光電接收電平指示插口和模擬通信接口，可開設模擬激光通信實驗（需增購模擬通信收/發器）
測量透明介質的折射率 / 介質中光速的測量（需增購透明介質棒/管）

2. 磁電阻效應實驗儀 型號：H11911  
磁電阻效應是近年來的熱門課題，并已有廣泛的應用。本實驗儀主要供學生在實驗室測量巨磁電阻材料的磁電阻之用。基本配置包括電磁鐵、大電流恒流源、精密數字恒流源、數字微伏表、數字特斯拉計、樣品、四探針夾具等。
主要技術指標:
1．精密恒流電源      0～10mA可調，三位半數字顯示，分辨率10uA，穩定度0.5%
2．數字電壓表   測量范圍0～20mV，四位半數字顯示，分辨率1uV，精度1%
3．磁場電源      0～6A可調，三位半數字顯示，穩定度0.5%  可換向
4．數字特斯拉計   測量范圍0～2000mT，四位半數字顯示，分辨率0.1mT，精度1%

3. 示波器型CCD單縫衍射儀 CCD單縫衍射儀 型號：H11910
采用線陣CCD器件光強分布測量儀、傳統單縫衍射儀的升級換代產品，實時、瞬間、連續采集衍射曲線的光強分布；曲線細膩，分辮率高；選配其它實驗組件還可完成其它實驗（是LM04綜合光學綜合實驗儀的獨立組件）

4. 雙光柵綜合實驗儀 雙光柵實驗儀 型號：H11905
選配其它實驗組件還可完成其它實驗（是LM04綜合光學綜合實驗儀的獨立組件）
主要實驗內容：
1、研究阻尼振動與受迫振動,分析速度共振與位移共振。
2、測量音叉的諧振曲線(電測量法)與振動頻率(李沙育圖形法)。
3、測量音叉的諧振曲線(雙光柵法)。
4、改變音叉質量,觀察諧振曲線的變化規律。
5、改變音叉驅動外力，觀察音叉振幅變化規律。
6、talbot(光柵自成像)長度測量,加深傅里葉光學概念。
7、激光多普勒效應觀察

5. 塞曼效應實驗儀 型號：H11903
整機0.8m長，體積小巧，永磁鐵1.2T，采集部分采用面陣CCD目視+電視型，分裂圓環清晰直觀，目視/監視器均可觀測，含光學測量十字線

以上參數資料與圖片相對應